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Annales de Chimie - Science des Matériaux

0151-9107
 

 ARTICLE VOL 30/2 - 2005  - pp.207-215  - doi:10.3166/acsm.30.207-215
TITRE
Effet du substrat et de l’'épaisseur sur les propriétés magnétiques des couches minces de Ni préparées par pulvérisation dc.

TITLE
The influence of substrate and thickness on the magnetic properties of dc sputtered Ni thin films

RÉSUMÉ

Nous avons étudié l’'effet du substrat et de l’'épaisseur sur les propriétés magnétiques des couches minces de Ni. Des séries de couches minces de Ni ont été préparées par pulvérisation dc sur quatre substrats différents : verre, Si(111), Si(100) et mica; l'’épaisseur de Ni est comprise environ entre 295 et 3080 Å. A l'’aide de la diffraction des rayons X, nous avons observé que le Ni croissant sur le verre, n'’a aucune texture. Cependant, le Ni déposé sur le Si a une orientation préférentielle <111> pour tous les échantillons. Des mesures par effet Kerr longitudinal et polaire, utilisant la radiation de longueur d’onde λ = 6328 Å et un champ magnétique variant de 0 à 7kOe, ont été réalisées sur ces échantillons. La rotation de Kerr ΘK et la coercivité Hc ont été déduites à partir des cycles d’'hystérésis. Ces grandeurs ont été étudiées en fonction du substrat, de l'’épaisseur du film, de la taille des grains et de la texture. Les résultats expérimentaux ont été interprétés et discutés.



ABSTRACT

The effects of the substrate and thickness on the magnetic properties of Ni thin films were investigated. Series of Ni thin films were prepared by dc diode sputtering on four different substrates : glass, Si(111), Si(100) and mica; the Ni thickness ranged from about 295 Å to 3080 Å. By X-ray diffraction, we observed that Ni grown on glass has no texture. On the other hand Ni deposited on Si gets the <111> preferred orientation for all samples. Kerr effect experiments were done using light of wavelength &lamda; = 6328 Å and a magnetic field varying from 0 to 7 kOe. Longitudinal and polar Kerr effect measurements were performed on these samples. Kerr rotation ΘK and coercivity Hc were deduced from the hysteresis curves. These parameters were studied as a function of the substrate, the film thickness, the grain size and the texture. The experimental results are interpreted and discussed.



AUTEUR(S)
Abdelkader BOURZAMI, Brahim GHEBOULI, Ahmed KHARMOUCHE, Abderrahim GUITTOUM, Abdelhamid LAYADI, Olivier LENOBLE, Michel PIECUCH

Reçu le 23 septembre 2002.    Accepté le 21 mars 2003.

CITATIONS
acsm.revuesonline.com/revues/36/citation/6646.html

LANGUE DE L'ARTICLE
Anglais

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